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天光PM-1平面平晶

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品牌:天光
生产厂家:天光
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天光PM-1平面平晶

平面平晶是以光波干涉原理为基础,利用平晶的测量面与试件的被测量面之间所出现的干涉条纹来测量被测量面的平面度。
*平面平晶用于检定量块的研合性和平面度以仪器和量具的测量面、工作面的平面度。亦可用于检定高精度的平面零件,例如,平面光学零件、高级平台、平板、导轨、密封件等。平面平晶特别适用于计量单位、实验室作为标准平面和样板。

平面直径d(mm)

基本参数

1级

价格

2级

d范围内

2/3d范围内

d范围内

2/3d范围内

30

0.03

----

275

0.1

0.05

45

325

60

375

80

0.05

0.03

575

100

1125

150

5000

200

0.08

0.05

9200

0.12

0.06

250

0.1

0.05

18400

0.15

0.08

300

0.15

0.09

55000

0.2

0.1

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